英文名称

X-ray diffractometer

仪器名称

X射线衍射仪

规格型号

XRD-6100

仪器图片

主要技术指标

最大管电压：60kv

扫描角度范围：-6º-163º

扫描速度：0.1º-50º/min

回转速度：1000º/min

测试精度：0.001º/ 步

主要功能

及特色

XRD-6100型X射线衍射仪可在大气中无损分析样品，进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且可通过峰面积计算进行定量分析。可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精密Ｘ射线结构解析等各种分析。高速运转及高精度的角度重现性提供快速可靠性高的数据，垂直型测角仪可用于分析各种状态的样品，扩大了使用范围。

● 多晶样品的常规物相分析和定量分析，

● 晶胞参数的测定，修正

● 未知多晶样品的X射线衍射指标化

● 晶粒尺寸和结晶度测定

英文名称

Measuring instrument for high temperature thermal physical parameters

仪器名

材料高温热物理参数测量仪

规格型号

SDC-1500

仪器图片

主要技术指标

1. 真空室为立式双层水冷不锈钢304结构，闸板阀与真空室之间加磁力转轴挡板1套，用于防止闸板阀胶圈过热。

2. 系统真空度及漏率：室温—1600℃加热及保温过程中真空度优于6.6×10^-5Pa；停泵关机12小时后残余气体压力小于10Pa；压升率≤0.33Pa/H；

3. 样品加热最高温度1600±5 ^oC，长期工作温度1500±3 ^oC，采用低压大电流加热电源；最大加热速度50 ^oC/Min

4. 发热体采用金属钼材料：尺寸：大于φ50×100mm；金属屏蔽保温结构。

5. 均温区尺寸：≥φ20mm；均温性：±5^oC

6. 真空室内样品台设有手动调姿机构一套：用于水平调整样品姿态；样品台手动最大升降距离为300mm；

7. 观察窗采用石英玻璃。

8. 设备采用分子泵＋机械泵系统抽真空；无氧Cu圈密封（非经常拆卸部位），采用数显真空计测真空度。

9. 图像采集系统及数据处理系统采用CCD摄像及连续变倍显微镜头，视频采集卡一套，接触角分析法采用θ/2法，自动分析法；

10. 额定功率：15KW；

11. 工业USB制式CCD（大于或等于500万像素）；显微镜放大率0.7-4.5倍连续变倍，放大倍数20-200倍，成像分辨率最高2048*1536；

主要功能

及特色

本设备为单室立式不锈钢结构的高温热物性参数测试设备，主要用于材料高温润湿性，表面张力及密度测试研究。

英文名称

ICP-AES

仪器别名

电感耦合等离子体原子发射谱仪

规格型号

plasma1000

仪器图片

主要技术指标

（1）保证定位准确，信背比优良，1μg/mLPb溶液信背比可达5倍以上；（2）超微量到常量的分析,动态线性范围5—6个数量级；（3）相对标准偏差RSD≤1%（5μg/mL）；（4）每分钟元素顺序扫描达18个以上；（5）可分析70多种金属元素和部分非金属元素，大多数元素的检出限可达μg/L级。

主要功能

及特色

Plasma1000电感耦合等离子体原子发射光谱仪是用于测定样品中元素含量的高新技术产品，具有稳定性好、检测限低、快速分析、运行成本低、方便维护、抗干扰能力强等特点。由于ICP光源拥有无可比拟的优点，可用于地质、冶金、环境、医药卫生、生物、海洋、石油、化工新型材料、核工业、农业、食品、商检、水质等各领域及学科的样品分析。

英文名称

FTIR

仪器别名

傅立叶变换红外光谱仪

规格型号

Nicolet iS5

仪器图片

主要技术指标

1) 光谱范围：7,800-350cm^-1；

2) 光谱分辨率：优于0.5cm^-1；

3) 灵敏度：噪音峰-峰值小于1，10-5Abs；

4) 波数精度：优于0.01cm^-1；

5) 信噪比：40000:1

主要功能

及特色

Nicolet iS5 傅立叶变换红外光谱仪设计小巧，尺寸紧凑，性能优异，配合Thermo Scientific OMNIC™ 红外软件，适合于产品可靠性测试、质量控制、材料鉴定等分析工作。

英文名称

• High temperature physical property testing system

仪器别名

高温物理性质测试系统

规格型号

MTLQ-ND-6

仪器图片

主要技术指标

★最高长期使用温度：1600℃

★粘度 （量程：0.02-300Pa.S，精度：1%/FS）

★密度（量程<10g/cm3，分辨率≤0.1g/cm³）、

★表面张力(量程50-2000mN.m^-1、分辨率≤1mN.m^-1)

★导电性（电阻测试范围1mΩ-1MΩ，分辨率≤1%）

额定温度：≥1700℃

温度控制系统：双闭环控制；炉体采用硅钼棒发热体，配备计算机采集系统

主要功能

及特色

本设备可测量材料的粘度、密度、表面张力以及导电性等物理性质。

英文名称

Ion polisher

仪器别名

离子减薄仪器

规格型号

2011T

仪器图片

主要技术指标

1、加速电压 0~10kV连续可调；

2、最大束流密度：>250μA/cm²

3、减薄速度：40μm/h(Cu)

4、离子束对样品的倾角1.5~45°（双面）

主要功能

及特色

不超过200字

Ion polisher 2021T 主要用于制备透射电子显微镜薄膜样品，其优点：

对减薄样品材料的实用性广泛，可用于金属、非金属、半导体、陶瓷及岩石等固体材料；

所制样品的质量高、可获得无污染、薄区大的清洁样品。

英文名称

Three dimensional surface profiler

仪器别名

三维表面轮廓仪

规格型号

50nm-10mm

Profilm 3D

仪器图片

主要技术指标

厚度范围，VSI  50nm-100mm

厚度范围，PSI  0-3 µm

样品反射率范围 0.05%-100%

Piezo范围 500 µm

XY平台范围100mm x 100mm

主要功能

及特色

用于测量粗糙度

Profilm3D采用白光干涉测量（WLI）和相移干涉测量（PSI）等行业标准技术，可快速测量大面积2D区域的粗糙度和纹理，无需接触样品。

测量曲面样品

由于Profilm 3D是一种非接触式技术，因此可以轻松测量弯曲和其他非平面表面。

任何粗糙度参数标准

Profilm 3D拥有47个ASME / EUR / ISO粗糙度参数标准。

英文名称

UV-VIS-NIR spectrophotometer

仪器别名

紫外可见光近红外分光光度计

规格型号

UV-3600plus

仪器图片

主要技术指标

波长范围：185-3300nm

谱带宽度：UV/Vis：0.1，0.2，0. 5，1，2，3，5，8nm 8段

NIR：0.2，0.5，1，2，3，5，8，12，20，32nm 10 段

分辨率：0.1nm

采样间距：0.01 - 5 nm

波长精度：UV/Vis：±0.2 nm ；NIR： ±0. 8 nm

波长重复性：UV/Vis：＜±0. 8 nm；NIR：＜±0. 32 nm

杂散光： 0.00008%T 以下 (220nm,NaI 10g /L 溶液);

0.00005%T 以下 (340nm, NaNO2);

主要功能

及特色

利用物质的分子或离子对紫外、可见及近红外光的吸收所产生的光谱及吸收程度对物质的组成、含量和结构进行分析和鉴定的重要仪器设备。可用于测定大多数液体、薄膜等样品的吸收、反射、透射等，应用主要包括电学、电子学及光学、食品、玻璃、化学药品、药物、化妆品及生命科学、纺织品等领域。